semua Kategori
Equipment

Peralatan Produksi Litbang

Bubuk generasi baru, bahan canggih, dan peralatan produksi cerdas

Peralatan Penelitian Ilmiah Lainnya

Berbagai peralatan pembentuk dan pengolahan, memberikan pengawalan untuk pekerjaan penelitian material

Peralatan Inspeksi dan Pengujian

Laboratorium Xinkang terutama bertanggung jawab atas persiapan bahan canggih, pengembangan produk baru, pengujian produk, serta penerapan dan implementasi proyek penelitian ilmiah. Perusahaan berencana menginvestasikan tidak kurang dari 25% pendapatan usahanya setiap tahunnya sebagai dana penelitian dan pengembangan. Hingga kini, Laboratorium Xinkang telah dilengkapi dengan lebih dari 20 peralatan deteksi, termasuk penganalisis ukuran partikel Malvern, spektrometer emisi plasma berpasangan induktif (ICP-OES), spektrofotometer serapan atom, penganalisis oksigen nitrogen hidrogen, mikroskop optik, dll.

  • Penguji Kinerja Komprehensif Serbuk
    Penguji Kinerja Komprehensif Serbuk

    Kerapatan getar, kerapatan lepas, sudut diam, sudut datar, sudut keruntuhan, Dispersitas dan benda uji serbuk lainnya. Item perhitungannya meliputi perbedaan sudut, kompresibilitas porositas, indeks fluiditas, indeks jet, dll.

  • Penganalisis ONH-3000
    Penganalisis ONH-3000

    Menganalisis kandungan oksigen, nitrogen, dan hidrogen dalam bahan anorganik seperti baja, logam non-ferrous, dan keramik.

  • Spektrofotometer Serapan Atom (AAS)
    Spektrofotometer Serapan Atom (AAS)

    Penyerapan atom adalah penggunaan elektron pada kulit terluar atom atau ion untuk menyerap cahaya dengan panjang gelombang tertentu, sehingga terjadi transisi tingkat energi, dan untuk mengkalibrasi konsentrasi larutan sesuai dengan intensitas cahaya yang diserap.

  • Alat Ukur Ukuran Partikel Laser
    Alat Ukur Ukuran Partikel Laser

    Untuk analisis ukuran partikel berbagai serbuk logam dengan presisi tinggi: e. G. bubuk aluminium, bubuk seng, serta bubuk nonlogam lainnya, seperti katalis dan semen.

  • Mikroskop optik
    Mikroskop optik

    Digunakan untuk mengamati morfologi permukaan produk, berlaku untuk berbagai bubuk logam.

  • Pencerna Gelombang Mikro
    Pencerna Gelombang Mikro

    ICP Tambahan dan Spektrofotometer Serapan Atom untuk analisis unsur, dapat menyelesaikan sebagian besar perlakuan awal sampel organik/anorganik/cair/padat.

  • Spektrometer Emisi Plasma Pembacaan Langsung Spektrum Penuh
    Spektrometer Emisi Plasma Pembacaan Langsung Spektrum Penuh

    Analisis kuantitatif cepat kualitatif, semi-kuantitatif, dan tepat dari elemen jejak dalam berbagai sampel yang tidak diketahui.